直流高壓發(fā)生器做耐壓試驗時會出現什么問題

　　直流高壓發(fā)生器的一般原理：施加到試件上的測試電壓場強須模擬高壓電器的工作條件。直流高壓發(fā)生器具有高精度和準確的測量。 電壓表和電流表均為數字顯示，電壓分辨率為0.1kV，電流分辨率為0.1uA。 控制箱上的電壓表直接顯示添加到負載測試樣本中的電壓值。 它不需要外部分壓器即可輕松接線。 該儀器具有高低壓端以測量泄漏電流，高壓端由圓形屏蔽數字儀表顯示。 它不怕放電沖擊，具有良好的抗干擾性能，適合現場使用。 高壓測試通過或失敗的結論是要表示高壓電器中的弱點是否對將來的操作有害。 這意味著測試中的故障機制應與設備運行中的機制具有相同的物理過程。
 

　　根據這一原理，直流高壓發(fā)生器直流電纜的耐壓測試主要表現在以下幾個方面：
 

　　1.在直流電壓下，電纜絕緣層的電場分布取決于材料的體積。 電阻率以及交流電壓下的電場分布取決于每種介質的介電常數，尤其取決于電纜端子，接線盒等中的直流電場強度。分布和交變電場的分布 強度*不同，直流電壓下的絕緣老化機理與交流電壓下的老化機理不同。 因此，直流耐壓測試不能模擬電纜。
 

　　2，電纜會在直流電壓下產生; 記憶; 效果是，存儲會累積單極性殘留電荷。 一旦由直流耐壓測試引起; 記憶; 釋放該直流偏置需要很長時間。 如果在*釋放直流殘留電荷之前投入使用，則直流偏置將疊加在工頻電壓的峰值上，從而使電纜上的電壓遠遠超過其額定電壓，這可能會導致電纜損壞。 絕緣擊穿。
 

　　3.在直流耐壓測試中，電子被注入到聚合物介質中以形成空間電荷，這會降低該位置的電場強度，使其難以擊穿。 半導體半導體和污染點易于產生空間電荷。 但是，如果在測試過程中電纜端子頭的表面閃爍或電纜附件損壞，則電纜芯上會發(fā)生波動。 在空間電荷積累的地方，振蕩電壓的極性迅速變?yōu)橄喾吹臉O性。 此時，電場強度會顯著增加，這可能會損壞絕緣并引起多次咔嗒聲。
 

　　4.電纜致命性的弱點之一是很容易在絕緣層中產生水分支。 一旦產生了水分支，它將在直流電壓下迅速轉換為電分支，并形成放電，這將加速絕緣退化，從而使其在運行后在工頻電壓下運行。 形成故障。 和純凈的水分支正在交流它可以在工作電壓下維持相當的耐壓，并且可以維持一段時間。
 

　　5.實踐也表明，直流高壓發(fā)生器的直流耐壓測試不能有效地發(fā)現交流電壓作用下的某些缺陷，例如電纜附件中是否存在機械損傷或應力錐錯位。 AC電壓下的絕緣*可能發(fā)生擊穿的位置，并且在DC電壓下通常不可能擊穿。 直流電壓下的絕緣擊穿經常發(fā)生，其中絕緣在交流工作條件下不會擊穿。